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介质损耗测试仪产品技术特性
更新时间:2020-10-14   点击次数:634次

介质损耗测试仪产品技术特性


介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

 

介质损耗测试仪技术指标 
1.   双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2.   双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3.   双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。
4.   自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5.   全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6.   DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高、幅度的高稳定。
7.   计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减低,** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
8. 使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

 

介质损耗测试仪技术特性

 型号

 

 

Q 值测量范围

2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、300 、 1000 ,自动换档或手动换档

Q值测量范围:2~1023。

Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

 

固有误差

≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~10MHz )

 ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

20kHz~10MHz

≤5%±满度值的2%;

10MHz~50MHz;

≤6%±满度值的2%;

工作误差

≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~10MHz )

≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

20kHz~10MHz

≤7%±满度值的2%;

10MHz~60MHz;

≤8%±满度值的2%

电感测量范围

4.5nH ~ 140mH

14.5nH~8.14H

电容直接测量范围

1 ~ 200pF

1~460pF

主电容调节范围

18 ~ 220pF

30~500pF

150pF以下±1.5pF;

主电容调节准确度

120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1%

150pF以上±1%

信号源频率覆盖范围

100kHz ~ 160MHz

10kHz~50MHz

频率分段 ( 虚拟 )

100 ~ 999.999kHz , 1 ~9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100~ 160MHz

10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz  

频率指示误差

3 × 10 -5 ± 1 个字

3×10-5±1个字

 

三、介质损耗测试仪正常工作条件

a.  环境温度:0℃~+40℃;                                       

b.相对湿度:<80%;  

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

 

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